Исследование прототипа элемента ReRAM на основе нестехиометрических анодных оксидных пленок ниобия
Приведены результаты разработки и экспериментального исследования прототипа элемента ReRAM на основе биполярного резистивного переключения в нестехиометрических анодных оксидных пленках ниобия.
Только зарегистрированные пользователи могут оставлять отзывы. Вход / Регистрация
Описание документа
Куроптев В. А. Исследование прототипа элемента ReRAM на основе нестехиометрических анодных оксидных пленок ниобия / В. А. Куроптев, В. В. Путролайнен, Г. Б. Стефанович // Учен. зап. Петрозавод. гос. ун-та. Сер.: Естественные и технические науки. - 2012. - № 8 (129), т. 1. - С. 95-98.
Издатель: Издательство ПетрГУ
Copyright: Петрозаводский государственный университет
Продолжая использовать данный сайт, Вы даете согласие на обработку файлов
Cookies и других пользовательских данных, в соответствии с Политикой конфиденциальности